SIGMA
ZEISS Sigma
FE-SEM para imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada.
La familia ZEISS Sigma combina la tecnología de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario. Estructure sus rutinas de imágenes y análisis y aumente la productividad. Estudiar nuevos materiales, partículas para inspección de calidad o especímenes biológicos o geológicos. No se comprometa con las imágenes de alta resolución: vaya a voltajes bajos y benefíciese de una resolución y un contraste mejorados a 1 kV o menos. Ejecute microscopía analítica avanzada utilizando la mejor geometría EDS de su clase y obtenga datos analíticos al doble de velocidad y con más precisión.
